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皆川 宣明; 盛合 敦; 森井 幸生; 斎藤 徹*
日本材料学会第37回X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集, p.220 - 222, 2001/00
中性子回折法によるひずみ測定では=d/d=(d-d)/dによりひずみが求められる。無ひずみ状態における格子面間隔dは材料を熱処理や粉末化して測定を行うが、手間と時間を必要とする。われわれは、一般構造材が、アルミ,鉄をベースとした正方晶系に着目し、ランダムな回転をさせながら中性子回折測定を行うことにより、d(hkl)を行う連続軸回転ゴニオメーターを製作し測定を試みた。その結果、A7075材を粉末化したものを中性子回折法及びX線回折法で測定し得られた格子定数aと開発ゴニオメーターにより測定した結果が10nmで一致し、実用になることを立証できたので報告する。
皆川 宣明; 斎藤 徹; 森井 幸生; 佐々木 敏彦*; 広瀬 幸雄*
日本材料学会第36回X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集, p.253 - 258, 2000/09
中性子回折法による残留応力測定では格子面間隔の変化(d=d-d)を回折角の変化から三軸方向のひずみを測定することによって残留応力値を求める。したがって、材料の無ひずみ状態時の格子面間隔dを知ることが重要である。これまではdの測定に関して粉末材を用いてdを測定していた。しかし、アルミ合金等を粉末状態にするには時間と労力がかなり必要となる。そこで、本研究ではd-dを測定するためにランダム回転に近い形態で試料を回転させて得られるdをdとして用いる簡便な方法を開発した。この方法によつて得られる格子面間隔と粉末法によって得られる値とを比較し、ほぼ同じような結果を得ることができたので報告する。